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产品名称:
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2100
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德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2100
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
  德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2100的详细资料:

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2100

 

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
      - 所有型号均可配所有探头
      - 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机
      - 可使用一片或二片标准箔校准

型号及功能:

型号1100210031004100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)111099
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值)-11099
可用各自的日期和时间标识特性的组数-1500500
数据总量1100001000010000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar-
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar--
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--
存储显示每一个应用行下的所有组内数据---
分组打印以上显示和存储的数据和统计值--
显示并打印测量值、打印的日期和时间-
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)-
在粗糙表面上作平均零校准
利用计算机进行基础校准
补偿一个常数(Offset)--
外设的读值传输存储功能-
保护并锁定校准设置
更换电池是存储数值
设置极限值--
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值--
连续测量模式中测量稳定后显示读数--
浮点和定点方式数据传送
组内单值延迟显示-
连续测量模式中显示最小值

可选探头参数(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
N两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头量程低端
分辨率
误差最小曲率
半径(凸/凹)
最小测量
区域直径
最小基
体厚度
探头尺寸
F050-500μm0.1μm±(1%+0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mm
F30-3000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±(1%+10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±(1%+10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±(3%+50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm
N020-200μm0.1μm±(1%+0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%+1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x170mm
N100-10mm10μm±(1%+25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±(1%+50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±(1%+0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±(1%+1μm)平面7mm无限制φ17x80mm
FN1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面30mmF:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

探头图示

 
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头,特别适合测粉末状的覆层厚度
 
F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
 
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm
 
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
 
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等
 
F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等
 
F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
 
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
 
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

 

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