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产品名称:
三坐标测头SP80和SP80H规格
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三坐标测头SP80和SP80H规格
SP80安装在标准垂直轴套上,能够与长800 mm、重500 g的测针配用,包括星形配置。而SP80H则安装在水平轴套上,能够与长500 mm、重300 g的测针配用,包括星形配置。
  三坐标测头SP80和SP80H规格的详细资料:

SP80和SP80H轴套式安装扫描测头具有优异的扫描性能,长测针的使用极具灵活性,可极大提高生产效率。SP80安装在标准垂直轴套上,能够与长800 mm、重500 g的测针配用,包括星形配置。而SP80H则安装在水平轴套上,能够与长500 mm、重300 g的测针配用,包括星形配置。

扫描原理;
扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。触发式测头可采集表面离散点,而扫描系统则可获取大量的表面数据,提供更详细的工件形状信息。因此,在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测,扫描测量可谓理想之选。扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。

雷尼绍扫描测头独具特色的轻巧无电源机构(无马达或锁定机构),具有高固有频率,适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接(无需通过测头机构中的叠加轴)测量测针的偏移量,以获得更高的精度和更快的动态响应。

SP80和SP80H规格:

 

SP80

SP80H

轴套安装

KM80 — 将SP80固定座安装到轴套尺寸为80 mm2用的转接头上(标准)

KM6080 — 将SP80固定座安装到轴套尺寸为60 mm2用的转接头上(选件)

SM80 — 可提供刀柄固定座和其他定制固定座

KM80 — 将SP80固定座安装到轴套尺寸为80 mm2用的转接头上(标准)

SM80 — 可提供刀柄固定座和其他定制固定座

接口选项
  • 使用UCC2 SP80插卡直接整合
  • 使用雷尼绍的PCI计数卡 (CC6) 和雷尼绍细分盒装置 (IU80)
  • 原始设备制造商设计的其他接口卡,并与IU80配用
  • 使用计数卡和原始设备制造商设计的细分盒装置
  • 使用UCC2 SP80插卡直接整合
  • 使用雷尼绍的PCI计数卡 (CC6) 和雷尼绍细分盒装置 (IU80)
  • 原始设备制造商设计的其他接口卡,并与IU80配用
  • 使用计数卡和原始设备制造商设计的细分盒装置
测头属性超高扫描精度扫描测头,具备三轴模拟测量 (±PX, ±PY, ±PZ)*超高扫描精度扫描测头,具备三轴模拟测量 (±PX, ±PY, ±PZ)*
测量范围

三轴测量:±2.5 mm(在PX、PY和PZ轴)*

±2.5 mm(在PX*、PY*轴)

***小±1.25 mm(在PZ*轴)

超程保护

PX*和PY*由SH80配用的机械结构式接头上的断开装置保护

PZ*具有机械“缓冲块”

PX*和PY*由SH80配用的机械结构式接头上的断开装置保护

PZ*具有机械“缓冲块”

刻度分辨率< 0.02 µm

< 0.02 µm

弹簧刚性

在X、Y和Z轴大约为1.8 N/mm

在X、Y轴大约为1.8 N/mm

在Z轴大约为2.5 N/mm

质量

SP80,不包含固定座和测针架:806 g

SH80测针架:185 g

KM80轴套固定座:110 g

SP80,不包含固定座和测针架:806 g

SH80测针架:185 g

KM80轴套固定座:110 g

电源

测头:+9 V至+18 V,300 mA直流电

系统:+5 V ±0.25 V,1 A直流电

测头:+9 V至+18 V,300 mA直流电

系统:+5 V ±0.25 V,1 A直流电

输出 (PX,PY,PZ)*

1.5 V ±0.25 V p-p模拟方波信号(额定2.5 V,零点交叉参考)

1.5 V ±0.25 V p-p模拟方波信号(额定2.5 V,零点交叉参考)

测针系列

雷尼绍M5

质量500 g(不平衡)
800 mm投影

雷尼绍M5

质量500 g(不平衡)
800 mm投影

交换架系统SCP80装置安装到MRS
SCP80V装置安装到MRS,后面朝向测针
 

笃挚仪器提供的产品有:圆度仪,圆柱度仪,轮廓测量仪,表面粗糙度仪,三坐标测量机,便携式三坐标测量臂,测高仪,高度仪、影像测量仪,万能测长仪,测量投影仪,日本三丰量具,瑞士TESA量具,德国马尔量具,金相显微镜,万能工具显微镜,扫描电子显微镜,涂镀层测厚仪,超声波测厚仪,凸轮轴综合测量机,曲轴综合测量机,齿轮测量中心,直读光谱仪,便携式光谱仪,合金元素分析仪,重金属元素分析仪,贵金属元素检测仪,液相色谱仪,残余应力分析仪,精密计量检测仪器;产品涵盖长度计量仪器、试验仪器、测绘仪器、分析仪器、实验仪器、环境试验设备、建筑仪器、光学仪器、无损检测 

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